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一种好的叠层结构就能够作到对阻抗的有效控制,其走线可形成易懂和可预测的传输线结构。现场解决工具能很好地处理这类问题,只要将变量数目控制到最少,就可以得到相当精确的结果。
但是,当三个以上的信号层叠在一起时,情况就不一定是这样了,其理由很微妙。目标阻抗值取决于器件的工艺技术。高速CMOS 技术一般能达到约70Ω; 高速TTL 器件一般能达到约80Ω至100Ω。因为阻抗值通常对噪声容限和信号切换有很大的影响,所以进行阻抗选择时需要非常仔细;产品说明书对此应当给出指导。
现场解决工具的初始结果可能会遇到两种问题。首先是视野受到限制的问题, 现场解决工具只对附近走线的影响做分析,而不考虑影响阻抗的其它层上的非平行走线。现场解决工具在布线前,即分配走线宽度时无法知道细节,但上述成对安排的方法可使这个问题变得最小。
值得一提的是不完全电源层(partial power planes)的影响。外层电路板上在布线后经常挤满了接地铜线,这样就有利于抑制EMI 和平衡涂敷(balance plating)。如果只对外层采取这样的措施,则本文所推荐的叠层结构对特性阻抗的影响非常微小。
大量采用相邻信号层的效果是非常显著的。某些些现场解决工具不能发现铜箔的存在,因为它只能检查印制线和整个层面,所以对阻抗的分析结果是不正确的。当邻近的层上有金属时,它就象一个不太可靠的地线层一样。如果阻抗过低,瞬时电流就会很大,这是一个实际而且敏感的EMI 问题。
导致阻抗分析工具失败的另一个原因是分布式电容。这些分析工具一般不能反映引脚和过孔的影响(这种影响通常用仿真器来进行分析)。这种影响可能会很大,特别是在背板上。其原因非常简单:
特性阻抗通常可用下述公式计算: √L/C
其中,L 和C 分别是单位长度的电感和电容。
如果引脚是均匀排布的,附加的电容将大大影响这个计算结果。公式将变成: √L/(C+C‘)
C‘是单位长度的引脚电容。
如果象在背板上那样连接器之间用直线相连,就可用总线路电容以及除了第一和最后一个引脚之外的总引脚电容。这样,有效阻抗就就会降低,甚至可能从 80Ω降到8Ω。为了求得有效值,需将原阻抗值除以: √(1+C‘/C)
这种计算对于元件选择是很重要的。
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